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      產品名稱

      光學測試

      概要信息
      ■1、波前畸變測量設備名稱:數字式波面干涉儀?測試波長范圍:633nm和1064nm測試尺寸范圍:Φ3mm~10mm×20mm~150mm@1064nm;Φ3~100mm×250mm@633nm測量精度:λ/12@1064nm;λ/20@633nm應用范圍:測量能夠透過1064nm光和633nm光的晶體波前畸變,例如:Ho:Cr:Tm:YAG、Er:YAG等。??■2、消光比測量:設備名稱:消光比
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      產品描述
       
       

         ■ 1、波前畸變測量

      設備名稱:數字式波面干涉儀

       

      測試波長范圍:633nm和1064nm

      測試尺寸范圍:Φ3mm~10mm×20mm~150mm@1064nm;

      Φ3~100mm×250mm@633nm

      測量精度:λ/12@1064nm;

      λ/20@633nm

      應用范圍:測量能夠透過1064nm光和633nm光的晶體波前畸變,例如:Ho:Cr:Tm:YAG、Er:YAG等。

         ■ 2、消光比測量:

      設備名稱:消光比測試系統

       

      測試波長范圍:633nm和1064nm

      測試尺寸范圍:Φ3mm~10mm×250mm

      測量誤差:≤±5%

      應用范圍:測量能夠透過1064nm光和633nm光的晶體的消光比,例如:Ho:Cr:Tm:YAG、Er:YAG等。

         ■ 3、角度測量:

      設備名稱: ZYGO平面干涉儀

       

      測試范圍:Φ3mm~100mm

      測量精度:≤λ/20@633nm

      應用范圍:晶體樣品的表面加工面型的精確測量。

      設備名稱:高精度測角儀

       

      測試范圍:直徑≥Φ3mm

      測量精度: ≤0.3"

      應用范圍:測量具有一定反光率的平面固體的幾何角度,例如:晶體棱鏡,金屬多面體等。

       
       
       
       

         ■ 5、應力測量:

      設備名稱:DIAS-1600數字式應力儀

       

      測試范圍:Φ5mm~60mm

      測量精度:±6nm

      應用范圍:測量樣品的微量應力大小及應力分布。

         ■ 4、面型測量:

       
       

         ■ 6、光譜測量:

      設備名稱:LAMBDA950分光光度計

       

      測量范圍:

      波長范圍:185nm~3300nm,

      尺寸范圍:Φ3mm~20mm×40mm@透過率

                Φ5mm~20mm×90mm@反射率

      測量精度:±0.1nm

      應用范圍:樣品0-60度透過率的測量,樣品6-68度反射率的測量,樣品漫反射測量,偏振光p和s光的透過和反射測量。

       

         ■ 7、激光損傷閾值測試:

      設備名稱:抗光損傷閾值測試系統

       

      測量范圍:

              波長:1064nm,

              脈寬:10ns,

              功率密度:600MW/cm2 ~ 2000 MW/cm2

      功率波動:≤±5%

      應用范圍:膜層抗光損傷閾值的測量,晶體材料抗光損傷的測量。

         ■ 8、單程損耗測試:

      設備名稱:單程損耗測試系統

       

      測量范圍:

      波長范圍:1064nm

      尺寸范圍:Φ4mm~20mm×250mm

      測量誤差:≤±10%

      應用范圍:測量晶體材料在1064nm波長激光單次通過后造成的光能量損耗。

         ■ 9、弱吸收測試:

      設備名稱:PTI弱吸收測量儀Low Absorptiometer

       

      測量范圍:透射膜層、透明晶體、透明陶瓷、透明玻璃等;

      波長范圍:波長1064nm;

      測量分辨率:優于1ppm;

      應用范圍:主要用于晶體材料內部雜質吸收和膜層缺陷弱吸收。

       

         ■ 10、傅里葉光譜測試:

      設備名稱:Frontier Optica傅里葉光譜儀FT-IR Spectrometer

       

      測量范圍:紅外材料和紅外膜層;

      波長范圍:7800-350cm-1;

      波數精度:優于0.01 cm-1;

      應用范圍:主要用于紅外材料和膜層的中、遠紅外光譜測量。

       
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